致茂電子Chroma 藉由多年在光電測試領域與自動化設計等經驗，針對激光業(yè)界普遍無法在芯片端Chip on Submount 進行特性檢測與燒機測試等提出嶄新的自動化激光芯片測試解決方案。

[致茂激光二極管自動化測試解決方案]

 激光二極管特性測試機 (Model 58620)

 致茂電子所推出的激光二極管特性測試機為一全新概念機種，專為激光半導體(Laser Diode)所打造設計，搭配自動化特性檢測All-In-One設計概念，可供不同的測試項目同時進行檢測；搭配高容量的載具設計，可供多顆激光芯片(Chip level)進行大量測試；另外藉由光學定位輔助(AOI) ，可提升自動化檢測的速度與可靠性；高穩(wěn)定性的溫控平臺設計，可讓研發(fā)人員精確地了解激光半導體特性與溫度的關系。

 高精密共享載具:

 主要應用于邊射型Edge-Emission激光使用(包括CoC，CoS，Laser-bar等)，載具的設計為因應大量測試，制作為雙邊對稱結構，最多可放置80顆待測物，特殊的多層次載具專利設計可讓激光半導體不互相干涉并可靠的與探針結合進行測試。傳統(tǒng)在激光半導體前段測試過程中，需經過多次的燒機測試(Burn-In)與特性檢測制程(characterization)，在更換載具的過程中常會損壞待測物減低良率，共享載具的好處可讓研操作員只需要在第一次將激光半導體放置于載具中，即可在不接觸待測物之下完成所有必要的檢測，此設計亦可搭配Chroma 58601燒機測試機。

 自動對焦系統(tǒng)與光學輔助定位:

 利用光學輔助定位的原理(AOI)使得Focuser快速達到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region)并進行搜尋最大發(fā)射功率點可加速測試，大幅減低光纖耦合調校時間與測試人力。

 高精準度溫控平臺:

 激光二極管依據物理特性會強烈受到外在溫度影響改變光譜與電性特性，因此在設計上加入了溫控平臺的設計并搭配Chroma 54130 的高精準度TEC溫度控制器與51101溫度紀錄器，可確保載具的溫度特性與均溫性。平臺溫度上平均分布四組溫度傳感器加上中心點的溫度控制器的回復點使得溫控平臺達到良好均，以及極佳的穩(wěn)定性。

 彈性化PXI測試平臺:

 致茂PXI解決方案具有開放式平，靈活性與快速整合能力。 搭配致茂獨家設計的高精準雙信道電源-量測單元(SMU) 52400 系列，可提供四象限(4Q)電流電壓源與量測功能，日后客戶可依照不同功率的需求搭配不同的SMU，提供激光半導體完整的電性量測。 致茂光功率計52961(optical power meter)，藉由搭配不同的波段光檢知器，可提供大范圍的光譜量測與寬動態(tài)量測范圍(80db)，可完整提供不同功率與發(fā)光特性的激光半導體使用。

 整合以上多種功能的自動化激光芯片檢測系統(tǒng)將是一套全新并可有效降低人工的優(yōu)質設備，也將會是您有效提高機光二極管測試產出率的最佳選擇。

 如需更進一步的產品信息，請至Chroma 官網查詢 www.chroma.com.cn